測(cè)厚儀檢測(cè)規(guī)章3
     111　　氣動(dòng)浮標(biāo)式測(cè)量?jī)x試行檢定規(guī)程　　　　　　　　　　　 JJG356—1984
　　112　　氣動(dòng)指針式測(cè)量?jī)x檢定規(guī)程(代替JJG466—1986)　　　 　JJG466—1993
　　113　　電感式比較儀試行檢定規(guī)程　　　　　　　　　　　　　 JJG396—1985
　　114　　量?jī)x測(cè)力儀檢定規(guī)程　　　　　　　　　　　　　　　　 JJG787—1992
　　115　立臥式光學(xué)計(jì)檢定規(guī)程(代替JJG45—1974JJG47—1975)　 JJG45—1986
　　116　0.2μm光學(xué)計(jì)檢定規(guī)程(代替規(guī)(G)長(zhǎng)—9—1965JJG53—1977)JJG53—1986
　　117　測(cè)長(zhǎng)機(jī)檢定規(guī)程(代替JJG54—1976)　　　　　　　　　　JJG54—1984
　　118　測(cè)長(zhǎng)儀檢定規(guī)程(代替規(guī)(G)長(zhǎng)—5—1965、JJG55—1959)　JJG55—1984
　　119　工具顯微鏡檢定規(guī)程(代替JJG56—1976JJG65—1976)　　 JJG56—1984
　　120　接觸式干涉儀檢定規(guī)程(代替規(guī)(G)長(zhǎng)—32—1965)　　　　JJG101—1981
　　121　投影儀檢定規(guī)程(代替44—1959)　　　　　　　　　　　 JJG108—1982
　　122　激光干涉比長(zhǎng)儀檢定規(guī)程(代替JJG331—1983)　　　　　 JJG331—1994
　　123　孔徑測(cè)量?jī)x試行檢定規(guī)程　　　　　　　　　　　　　　 JJG467—1986
　　124　200型萬(wàn)能比較儀檢定規(guī)程　　　　　　　　　　　　　   JJG523—1988
　　125　雙頻激光干涉儀工作基準(zhǔn)檢定規(guī)程　　　　　　　　　 　JJG739—1991
　　126　立式激光測(cè)長(zhǎng)儀檢定規(guī)程　　　　　　　　　　　　　　 JJG764—1992
　　127　柯氏干涉儀檢定規(guī)程　　　　　　　　　　　　　　　　 JJG770—1992
　　128　　三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)試行檢定規(guī)程　　　　　　　　　　　　　 JJG799—1992
　　129　　數(shù)顯測(cè)高儀檢定規(guī)程*　　　　　　　　　　　　　　　　JJG929—1998
　　130　光柵線(xiàn)位移測(cè)量裝置檢定規(guī)程　　　　　　　　　　　 　JJG341—1994